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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Investigation of implanted gallium depth distributions in ZnSxSe-x by EPMA
Ist Teil von
  • Mikrochimica acta (1966), 1994-12, Vol.114-115 (1), p.165-173
Erscheinungsjahr
1994
Link zum Volltext
Quelle
SpringerLink
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0026-3672
eISSN: 1436-5073
DOI: 10.1007/BF01244540
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1007_BF01244540
Format

Weiterführende Literatur

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