Details

Autor(en) / Beteiligte

• Bajenescu, Titu-Marius I

Titel

Zuverlassige Bauelemente fur elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Pruffeldpraxis, Qualitatsuberwachung

Auflage

1. Aufl. 2020 edition.

Ort / Verlag

Springer

Erscheinungsjahr

2020

Link zum Volltext

Quelle

Alma/SFX Local Collection

Beschreibungen/Notizen

• Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.