Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Link-Resolver
Autor(en)
Benevenuti, Fabio
Artikel
Investigating the reliability impacts of neutron-induced soft errors in aerial image classification CNNs implemented in a softcore SRAM-based FPGA GPU
Titel
Microelectronics and reliability
Verlag
Pergamon,
Ort
Oxford :
Erscheinungsjahr
c1964-
Es wurden folgende elektronische Volltexte gefunden