Folgender Titel konnte gefunden werden
- Autor(en)
- Iniewski, Krzysztof
- Artikel
- Ultrafast Electron Beam Tomography
- Titel
- Semiconductor radiation detection systems
- Seiten
- 275-292
- Band
- 2
- Verlag
- CRC Press
- Ort
- Boca Raton [u.a.]
- Erscheinungsjahr
- 2010
- Identifikatoren
- ISBN: 1439803854, 9781439803851; eISBN: 1315218372
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