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Autor(en)
Iniewski, Krzysztof
Artikel
Ultrafast Electron Beam Tomography
Titel
Semiconductor radiation detection systems
Seiten
275-292
Band
2
Verlag
CRC Press
Ort
Boca Raton [u.a.]
Erscheinungsjahr
2010
Identifikatoren
ISBN: 1439803854, 9781439803851; eISBN: 1315218372
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