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Autor(en)
Zhang, Shibin
Artikel
Study on Quantum Trust Model Based on Node Trust Evaluation
Titel
Chinese Journal of Electronics = 电子学报(英文)
Seiten
608-613
Band
26
Heft
3
Verlag
Technology Exchange Limited
Ort
PEOPLES R CHINA
Erscheinungsjahr
2017
Identifikatoren
ISSN: 1022-4653; eISSN: 2075-5597
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