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Autor(en)

Zhu, Jinlong

Artikel

Regularized pseudo-phase imaging for inspecting and sensing nanoscale features

Titel

Optics express

Seiten

6719-6733

Band

27

Heft

5

Verlag

Optical Society of America

Ort

Washington, DC

Erscheinungsjahr

2019

Identifikatoren

ISSN: 1094-4087; eISSN: 1094-4087

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