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Autor(en)
Zulauf, Grayson
Artikel
COSS Losses in 600 V GaN Power Semiconductors in Soft-Switched, High- and Very-High-Frequency Power Converters
Titel
IEEE transactions on power electronics.
Verlag
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
Ort
New York, NY :
Erscheinungsjahr
1986-
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