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Autor(en)
Materials Research Society
Artikel
Study of Electrical Transport Across Interfaces between Wide Gap Semiconductor and Metal Oxides
Titel
Materials Research Society symposia proceedings
Band
474
Verlag
North-Holland
Ort
New York [u.a.]
Erscheinungsjahr
1997
Identifikatoren
ISSN: 0272-9172; eISSN: 1946-4274
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