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Autor(en)
Cho, Yujin
Artikel
Second-harmonic microscopy of strain fields around through-silicon-vias
Titel
Applied physics letters
Band
108
Heft
15
Verlag
AIP
Ort
Melville, NY
Erscheinungsjahr
2016
Identifikatoren
ISSN: 0003-6951; eISSN: 1077-3118
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