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- Institute of Electrical and Electronics Engineers, issuing body, author.
- Artikel
- Modeling and Analysis of Total-Ionization-Dose Induced Spatial Equivalent Noise Charge of a 180-nm 4T CMOS Active Pixel Sensor
- Titel
- 2019 3rd International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices (ICREED) /
- Verlag
- IEEE,
- Ort
- Piscataway, New Jersey :
- Erscheinungsjahr
- 2019.
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