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Autor(en)

Bletsos, Ioannis V

Artikel

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry: detection of fragments from thick polymer films in the range m/z .ltoreq. 4500

Titel

Analytical chemistry

Seiten

938-944

Band

60

Heft

9

Verlag

American Chemical Society

Ort

Washington, DC

Erscheinungsjahr

1988

Identifikatoren

ISSN: 0003-2700; eISSN: 1520-6882

Volltextzugriff (PDF)

• Freie Ressource

  EZB-NALI1-00461 ACS Archive NL

  Verfügbar von 1947 Band: 19 bis 1995 Band: 67.;