Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Link-Resolver
Autor(en)
Gavelle, Mathieu
Artikel
Detection of Cs 2 Ge clusters for the quantification of germanium atomsby secondary ion mass spectrometry: Application to the characterizationof Si 1 − x Ge x layers ( 0 ⩽ x ⩽ 1 ) and germanium diffusion in silicon
Titel
Journal of Applied Physics
Verlag
American Institute of Physics
Ort
Melville, NY :
Erscheinungsjahr
1937
Es wurden folgende elektronische Volltexte gefunden