Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Link-Resolver
Autor(en)
Hao, X J
Artikel
Effects of Si-rich oxide layer stoichiometry on the structural and optical properties of Si QD/SiO2 multilayer films
Titel
Nanotechnology
Verlag
IOP Publ.
Ort
Bristol
Erscheinungsjahr
1990-
Es wurden folgende elektronische Volltexte gefunden