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2., completely rev. ed, 1985
Signatur: UIY1775(2)
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Autor / Autorin
- Briggs, David
- Ertl, Gerhard
- Küppers, Jürgen
- Neidel, Andreas
- Briant, Clyde L
- Carlson, Thomas A
- Czanderna, Alvin Warren
- Dekeyser, W
- Dierschke, Peter
- Dudek, Hans Joachim
- Ebel, Maria F
- Engel, Lothar
- Ferguson, Ian F
- Grasserbauer, Manfred
- Grosch, Johann
- Hawkins, Donald T
- Hofmann, Siegfried
- Klingele, Hermann
- MacGuire, Gary E
- Macho, Kornelia
Erscheinungsform
Schlagwort
- Auger-Spektroskopie
- Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
- Festkörperoberfläche
- Oberflächenanalyse
- Elektronenspektroskopie
- Photoelektronenspektroskopie
- Adsorption
- Dünne Schicht
- LEED
- Langsames Elektron
- Metallischer Werkstoff
- Oberflächenchemie
- Rasterelektronenmikroskopie
- Schadensanalyse
- Strömungsmaschine
- Werkstoffschädigung
- Eisenlegierung
- Elektronenemissionsspektroskopie
- Elektronenstoßionisation
- Gold
Erscheinungsjahr
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