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Point defects in materials
Agulló-López, Fernando; Catlow, Charles R. A.; Townsend, Peter D. - 1988
Signatur: UIQ4228
Les défauts ponctuels dans les semiconducteurs
  • Monographies de physique
Brousseau, Max - 1988
Signatur: UIU3604
Transition metal impurities in semiconductors
Omel'Janovskij, Erazmovic M.; Fistul', V. I. - 1986
Signatur: UIU2747
Point defects in semiconductors
  • Springer Series in solid-state sciences
Lannoo, Michel; Bourgoin, Jacques - 1981 -
Signatur: UIM1288-...
Point defects in semiconductors / Bd. 1 : Theoretical aspects
Lannoo, Michel; Bourgoin, Jacques - 1981
Signatur: UIM1288-22
Point defects in semiconductors / Bd. 2 : Experimental aspects
Lannoo, Michel; Bourgoin, Jacques - 1983
Signatur: UIM1288-35
Hydrogen in crystalline semiconductors
Pearton, Stephen J.; Corbett, James W.; Stavola, Michael - 1992
Signatur: UIU3379
Angeregte Zustände von atomaren Wasserstoffzentren in Alkalihalogeniden
Meyer, Bruno K. - 1983
Signatur: UIQ3688
Deep centers in semiconductors : a state of the art approach
Pantelides, Sokrates [Herausgeber] - 2. ed. - 1992
Signatur: UIU2836(2)
Multiple scattering theory of point defects in metals: electronic properties
Mertig, Ingrid; Mrosan, Eberhard; Ziesche, Paul - 1. Aufl. - 1987
Signatur: UIN1194
Transientenspektroskopie an wasserstoff- und kohlenstoffdotiertem Silizium
Endrös, Arthur - 1990
Signatur: D2321
Point defects in metals
  • Springer tracts in modern physics
Leibfried, Günther; Dederichs, Peter H. - 1978 -
Signatur: UAY4098-...
Point defects in metals / Bd. 1 : Introduction to the theory
Leibfried, Günther; Dederichs, Peter H. - 1978
Signatur: UAY4098-81
Point defects in metals / Bd. 2 : Dynamical properties and diffusion controlled reactions
Leibfried, Günther; Dederichs, Peter H.; [u.a.] - 1980
Signatur: UAY4098-87
Thermodynamics of point defects and their relation with bulk properties
Barōtsos, Panagiōtēs; Alexopoulos, Kessar D. - 1986
Signatur: UDG2365
Hydrogen in compound semiconductors
Pearton, Stephen J. [Herausgeber] - 1994
Signatur: UIM1628-148/149
Gettering Defects in Semiconductors [Elektronische Ressource]
  • Springer Series in Advanced Microelectronics
Perevoschikov, Victor A.; Skoupov, Vladimir D. - 2005
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Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten CD Teschichten
Sitter, Helmut - 1981
Signatur: UIU2501
Die elektronische Struktur von Übergangsmetallstörstellen in Magnesiumoxid
Timmer, Gerald - 1989
Signatur: D970
Untersuchung bestrahlungsinduzierter Punktdefekte in Halbleitern mit diffuser Röntgenstreuung
Karsten, Kuno - 1993
Signatur: MQ3877
Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an Eisen-dotiertem Silizium
Fröhner, Karl-Heinz - 1982
Signatur: DQ584
Kapazitaetstransienten-Untersuchungen an tiefen Stoerstellen in Silizium
Wünstel, Klaus - 1982
Signatur: DQ553
Point defects in crystals
  • A WILEY INTERSCIENCE PUBLICATION
Watts, Roderick K. - 1977
Signatur: UIQ2585
Berechnung der elektronischen Struktur tiefer Störstellen in Silizium
Beeler, Franz - 1986
Signatur: DQ813
Zur Störstellenanalyse von Halbleitern : ein Methodenvergleich
Klein, Günter - 1993
Signatur: D8218
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