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Testing semiconductor memories : theory and practice
1991
Signatur: YET2926
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Tutorial: test generation for VLSI chips
1988
Signatur: MQ1252
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The distributed test methodology, DTM
1988
Signatur: D936
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Zum Test von großflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze
1988
Signatur: D1711
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Basiswissen Testdatenmanagement : Aus- und Weiterbildung zum Test Data Specialist – Certified Tester Foundation Level nach GTB
iSQI-Reihe
2018
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Component based software testing with UML : with ... 24 tables
2005
Signatur: TWQ10955
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Component-Based Software Testing with UML [Elektronische Ressource]
2005
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Keyword-Driven Testing : Grundlage für effiziente Testspezifikation und Automatisierung
2020
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Test digitaler Schaltkreise
[2014]
1 – 9 von 9
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