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The role of constructs in psychological and educational measurement : a festschrift honoring the work of Samuel Messick

2002

Signatur: HQFM1078

Psychologische Leistungstests : ein Handbuch für Studium und Praxis. 1. Intelligenz, Konzentration, spezielle Fähigkeiten

Psychologische Leistungstests (Alle Bände)

Weise, Georg

1975

Signatur: HVF1383-1

An applied study on computerized adaptive testing

Schoonman, Wouter

1989

Signatur: D3336

Rorschachiana

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EBSCOhost APA PsycARTICLES
Verfügbar von 1993.
EZB-HOGRE-00385 PsyJournals Hogrefe AL
Verfügbar von 1993 Band: 18.
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Über die algorithmische Erkennung von Falschbeantwortungen dichotomer Items und ihre Bedeutung für die Psychodiagnostikforschung

Warzecha, Georg

1990

Signatur: D6412

"Projektive Techniken": unseriöse "Tests" oder wertvolle Methoden?

1995

Signatur: AVL1146

Möglichkeiten zur Erstellung von Ordinalskalen

Wolfrum, Christine

1983

Signatur: D1470

Grundlagen normorientierter u. kriteriumorientierter Tests : e. krit. Auseinandersetzung mit d. klass. Testtheorie u. d. logist. Testmodellen

Hilke, Reinhard

1980

Signatur: HVF1781

BMAT and UKCAT uncovered : a guide to medical school entrance exams [electronic resource]

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Wiley Online Library - AutoHoldings Books

Sequentialtestes für die Stichprobeninventur : e. Beitr. zur Anwendbarkeit sequentieller Testverfahren bei heterograder Fragestellung

Köpper, Franz

1987

Signatur: TKM3447

IEEE Std 716-1989 : IEEE Standard C/ATLAS Test Language

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

1985

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IEEE Std 1546-2000

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2001

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IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006)

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2011

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IEEE Std 1445-2016 (Revision of IEEE Std 1445-1998) : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF)

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

[2017]

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IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use)

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2009

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IEEE Std 1636.1-2007 : IEEE Standard for Software Interface for Maintenance Information Collection and Analysis (SIMICA): Exchanging Test Results and Session Information via the eXtensible Markup Language(XML)

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2008

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IEEE Std 1671.6-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML: Exchanging Test Station Information

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2008

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IEEE Std 1871.2-2017 : IEEE Recommended Practice for IEEE 1671 Test Equipment Templates and Extension Classes for Describing Intrinsic Signal Path Information for Cables, Interface Adapters, and Test Equipment

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

[2018]

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1641-2022 - IEEE Standard for Signal and Test Definition

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2023

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IEEE Std 771-1989 : IEEE Guide to the Used of the ATLAS Specification

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

1989

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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

(Revision of IEEE Std 1671.5-2008), 2015

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IEEE Std 1671-2006 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2006

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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

(Revision of IEEE Std 1671.5-2008), 2015

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1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2019

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IEEE Std 1671.5-2008 (Full_Use) : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information

Institute of Electrical and Electronics Engineers,

2012

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