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Elektronenmikroskopische Charakterisierung von Versetzungen in plastisch verformtem InP

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2841 (Alle Bände)

Luysberg, Martina

1993

Signatur: MQ4258

Untersuchung bestrahlungsinduzierter Punktdefekte in Halbleitern mit diffuser Röntgenstreuung

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2795 (Alle Bände)

Karsten, Kuno

1993

Signatur: MQ3877

Flache Donatoren in Galliumnitrid : optisch detektierte, paramagnetische Resonanz unter hohem Druck [Elektronische Ressource]

Michael, Karsten

2000

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Kapazitätsspektroskopie an Kupferdefekten in Silizium

Prescha, Thomas

1990

Signatur: D3630

Charakterisierung von III, V-Halbleiter-Heterostrukturen mit hochauflösender Röntgendiffraktometrie

Zaus, Robert

1992

Signatur: D8324

Photolumineszenzmessungen an MBE-AlGaAs/GaAs-Halbleiterschichtsystemen zur Optimierung der Wachstumsparameter

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2507 (Alle Bände)

Kubon, Marcus

1991

Signatur: MQ1524

Quantenausbeute- und Admittanzspektroskopie zur Analyse der Ladungsträgerrekombination in Silizium-Solarzellen

Hirsch, Michèle

1995

Signatur: D10247

Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2839 (Alle Bände)

Stenkamp, Dirk

1993

Signatur: MQ4222

Elektronische Struktur von Siliziumkarbid-Polytypen untersucht mit Weichröntgenspektroskopie

Berichte des Forschungszentrums Jülich , 3204 : 3204 (Alle Bände)

Ellmers, Christoph

1996

Signatur: MQ6599

Spektroskopische Untersuchungen von ungeordneten und niederdimensionalen Halbleitern

Fuchs, Heinz D

1993

Signatur: D8373

Transportmessungen mittels Hall-Effekt und Quanten-Hall-Effekt an III-V-Halbleiterheterostrukturen

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2508 (Alle Bände)

Appenzeller, Jörg

1991

Signatur: MQ1525

Untersuchung von CdTe-Substraten mit dem Rastertunnelmikroskop

Ehinger, Markus

1993

Signatur: D8238

Hyperfine interaction of defects in semiconductors

Langouche, G[Herausgeber]

1992

Signatur: UIU3400

Modellierung und Strukturaufklärung amorpher Si-C-N-Prekursorkeramiken auf atomarer Ebene [Elektronische Ressource]

Amkreutz, Marc

2003

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Near infrared microscopy a simple but effective technique to analyze microdefects in GaAs

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2939 (Alle Bände)

1994

Signatur: MQ5124

Quantum transport in ultrasmall devices : proceedings of a NATO Advanced Study Institute on Quantum Transport in Ultrasmall Devices, held July 17 - 30, 1994 in Il Ciocco, Italy

NATO ASI series : Series B, Physics : 342 (Alle Bände)

Ferry, David K[Herausgeber]

1995

Signatur: UAL940217

Ramanstreuung in hohen Magnetfeldern

Ruf, Tobias

1990

Signatur: D3100

Optical processes in semiconductors

Pankove, Jacques I

Unabridged republ., with slight corr., of the work orig. publ. by Prentice-Hall, Englewood Cliffs, NJ, 1971, 1975

Signatur: UIU4333

Hochauflösende Elektronenenergieverlustspektroskopie an ultradünnen Eisenfilmen und der wasserstoffterminierten Si(111)-Oberfläche

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2555 (Alle Bände)

Stuhlmann, Christopher

1991

Signatur: MQ1987

Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Halbleiter-Heterostrukturen nach Bestrahlung mit 100fs-Laserpulsen

Koch, Ansgar

1995

Signatur: D11317

Doppel- und tripelresonante Ramanstreuung an polaren Halbleitern und deren Übergitterstrukturen

Alexandrou, Antigoni

1989

Signatur: D1074

Elektrische, optische und magnetische Messungen an Gold-Lithium-Komplexen in Silizium

Padberg, Rainer

1996

Signatur: P988, UIO2161

Optisch detektierte magnetische Resonanzuntersuchungen an Defekten mit Negativ-U-Eigenschaften : DX-Zentren in AlGaAs und der Sauerstoffdefekt in GaAs

Linde, Matthias

1995

Signatur: UIQ4715, P885

Optisch detektierte magnetische Resonanzuntersuchungen an Aluminium-, Scandium- und Bor-korrelierten Defekten in Siliziumkarbid

Reinke, Jürgen

1998

Signatur: UIO2218, P1196

A study of growth and doping of cubic group III nitride structures

Köhler, Ulrich

1. Aufl, 2003

Signatur: P1663, UIO2315

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