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Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation
1995
Signatur: D10805
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Semiconductor device fundamentals : with computer-based exercises and homework problems
Repr. with corr, 1996
Signatur: UIU3913
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Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8 - 12, 1996, San Francisco, California, USA
Materials Research Society symposium proceedings : 428 (Alle Bände)
1996
Signatur: XWQ1291
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Materials reliability in microelectronics V : symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A
Materials Research Society symposium proceedings : 391 (Alle Bände)
1995
Signatur: XWQ1275
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Fourth International Conference on Indium Phosphide and Related Materials : April 21 - 24, 1992, Newport Islander Doubletree Hotel, Newport, Rhode Island, USA
1992
Signatur: UAL920055
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Characterization in silicon processing
Materials characterization series
1993
Signatur: XWQ1241
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Quantum wells, wires and dots : theoretical and computational physics of semiconductor nanostructures
2. ed, 2005
Signatur: UIU4595(2)
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Coherent semiconductor optics : from basic concepts to nanostructure applications
2007
Signatur: UIU4561
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Optics of semiconductor nanostructures
1993
Signatur: UIU3654
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