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Sehen, Verstehen, Gestalten : Mikrostrukturen im Elektronenmikroskop

Schulze, Dietrich

1998

Signatur: MQ11141, MQ11140

Electron beam testing technology

Microdevices

Thong, John T[Herausgeber]

1993

Signatur: UFF1621

Fortschrittliche REM-Analyse in der Hochtechnologie, Werkstoff-Forschung, Schadensanalyse, Qualitätssicherung : vom 18. bis 20. April 1988 im Arabella-Konferenz-Zentrum München ; Vorträge

Vorträge der ... Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises "Rastermikroskopie in der Materialprüfung" : 13 (Alle Bände)

Thien, Volker

1988

Signatur: ZME1679

Präparative und mikroskopische Verfahren in der Materialprüfung : Grundlagen ; angewandte Mikroskopie

Ecomed-Umweltinformation

Jörg, Fritz

1. Aufl, 1991

Signatur: ZME1700

Bulk crystal growth of electronic, optical & optoelectronic materials

Wiley series in materials for electronic and optoelectronic applications

Capper, Peter[Herausgeber]

2005

Signatur: UIR2687

Handbook of nitride semiconductors and devices

Morkoç, Hadis

2008-

Signatur: YEM2256

Organic electroluminescence

Optical engineering : 94 (Alle Bände)

Kafafi, Zakya H

2005

Signatur: UIQ5151

Handbook of nitride semiconductors and devices. 1. Materials, properties, physics and growth

Handbook of nitride semiconductors and devices (Alle Bände)

Morkoç, Hadis

2008

Signatur: YEM2256-1

Handbook of nitride semiconductors and devices. 2. Electronic and optical processes in nitrides

Handbook of nitride semiconductors and devices (Alle Bände)

Morkoç, Hadis

2008

Signatur: YEM2256-2

Semiconductor nanocrystals : from basic principles to applications

Nanostructure science and technology

Ėfros, Aleksej L[Herausgeber]

2003

Signatur: UIU4537

Electronics via waveform analysis

Craig, Edwin C

1993

Signatur: UFF1647

Electronics for the physicist with applications

Delaney, Cyril F

[Rev. ed.], 1980

Signatur: YEA2298

Electronics for the physicist

Penguin education : 53 (Alle Bände)

Delaney, Cyril F

1969

Signatur: YEA2303

Optical methods of engineering analysis

Cloud, Gary L

1. paperback ed, 1998

Signatur: UGR1730

Electronic instrumentation and measurement techniques

Cooper, William David

6. print, 1970

Signatur: XXA2241

Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation

Harnau, Arnold

1995

Signatur: D10805

Procedures in scanning probe microscopies

Colton, Richard J[Herausgeber]

Repr, 1999

Signatur: MQ11448

Scanning probe microscopy : analytical methods

Nanoscience and technology

Wiesendanger, Roland[Herausgeber]

1998

Signatur: UFF1786

Rastermikroskopie mit Mikrospitzen : Untersuchungen mit dem Kraft- und Tunnel-Rastermikroskop

Nonnenmacher, Martin

1990

Signatur: D2390

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen

Röder, Thorsten

2004

Signatur: P1778

Auger microprobe analysis

Ferguson, Ian F

1989

Signatur: UFF1493

Aufbau einer UHV-Kombination von Rasterelektronen- und Rastertunnelmikroskop : lokale Untersuchung der Austrittsarbeit an definierten Oberflächen

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2993 (Alle Bände)

Birkner, Alexander

1994

Signatur: MQ5414

Untersuchung der Si-SiGe-Heteroepitaxie mit der Rastertunnelmikroskopie

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 3023 (Alle Bände)

Kampers, Stefan

1995

Signatur: MQ5582

Rastertunnelmikroskopie an Si-Einkristalloberflächen

Berghaus, Thomas

1988

Signatur: D578

Scanning tunneling microscopy and spectroscopy : theory, techniques, and applications

Bonnell, Dawn A[Herausgeber]

1993

Signatur: UFF1639

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