Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 28 (Alle Bände)
2. ed, 1995
Signatur: UFF1582(2)-2
Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 20 (Alle Bände)
2. ed, 1994
Signatur: UFF1582(2)-1
Springer series in surface sciences : ...
Signatur: UFF1582-...
Ellis Horwood series in electrical and electronic engineering, Electronic and communication engineering
1990
Signatur: UFF1524
2. ed, 1967
Signatur: UFF1142(2)
Aktive Filter
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenArt des Mediums
Autor / Autorin
- Anselmetti, Dario
- Baumeister, Wolfgang
- Güntherodt, Hans-Joachim
- Bargmann, Wolfgang
- International Conference on Electron Microscopy
- König, Herbert Wilhelm
- Morkoç, Hadis
- Craig, Edwin C
- Delaney, Cyril F
- Jones, Kenneth A
- Rohe, Karl-Heinz
- Röder, Thorsten
- Wiesendanger, Roland
- Arbiol, Jordi
- Bai, Chunli
- Banhart, Florian
- Bauer, Hans-Dietrich
- Berghaus, Thomas
- Beynon, John
- Bigalke, Alfred
Erscheinungsform
Schlagwort
- Rastertunnelmikroskopie
- Elektronik
- Rasterkraftmikroskopie
- Elektronenoptik
- Oszillograph
- Elektronenmikroskop
- Halbleiter
- Rastersondenmikroskopie
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- Elektronisches Bauelement
- Ionenoptik
- Kristallfläche
- Rasterelektronenmikroskopie
- Waveform-Relaxation
- Abbildungsfehler
- Amorpher Halbleiter
- Auger-Spektroskopie
- Crystal growth
- Datenverarbeitung
- Durchstrahlungselektronenmikroskop
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Neu hinzugefügt
Systemstelle
Art des Inhalts