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Semiconductor Nanowires : materials, synthesis, characterization and applications

Woodhead Publishing series in electronic and optical materials : 77 (Alle Bände)

2015

Signatur: UFF1841

Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop : ein Handbuch für die Praxis

Eggert, Frank

2005

Signatur: UFF1833

Control technologies for emerging micro and nanoscale systems

Lecture notes in control and information sciences : 413 (Alle Bände)

Eleftheriou, Evangelos

2011

Signatur: UFF1825

In-situ electron microscopy at high resolution

Banhart, Florian[Herausgeber]

2008

Signatur: UFF1817

Ultramikrotomie in der Materialforschung

2004

Signatur: UFF1809

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen

Röder, Thorsten

2004

Signatur: P1778

Quantitative high resolution fluorescence microscopy using evanescent wave excitation

Oheim, Martin

1. Aufl, 1999

Signatur: UFF1794

Scanning probe microscopy : analytical methods

Nanoscience and technology

Wiesendanger, Roland[Herausgeber]

1998

Signatur: UFF1786

Procedures in scanning probe microscopies

Colton, Richard J[Herausgeber]

Repr, 1999

Signatur: MQ11448

Optical methods of engineering analysis

Cloud, Gary L

1. paperback ed, 1998

Signatur: UGR1730

Sehen, Verstehen, Gestalten : Mikrostrukturen im Elektronenmikroskop

Schulze, Dietrich

1998

Signatur: MQ11141, MQ11140

Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis

1996

Signatur: UFF1760

Konzeption und Herstellung von Mikrosonden zur elektrischen und thermischen Charakterisierung mikroelektrischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie

Münster, Stefan

1997

Signatur: D11950

Entwicklung und Anwendung piezoresistiver Brückenelemente als integrierte Sensoren für die Rasterkraftmikroskopie

Jumpertz, Reiner

1997

Signatur: DQ2166

Das Oszilloskop : Funktion und Anwendung

Lipinski, Klaus

2., erw. Aufl, 1978

Signatur: UFF1312(2)

Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Adsorption und Reaktion von O 2, N 2 O, NO 2 und NO auf Si(100) und das Wachstum von Pt auf reinem und oxidiertem Si(100)

Kliese, Rainer

1997

Signatur: D11270

Scanning tunneling microscopy. 3. Theory of STM and related scanning probe methods

Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 29 (Alle Bände)

2. ed, 1996

Signatur: UFF1582(2)-3

Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation

Harnau, Arnold

1995

Signatur: D10805

Scanning tunneling microscopy and spectroscopy : theory, techniques, and applications

Bonnell, Dawn A[Herausgeber]

1993

Signatur: UFF1639

Zur Frühgeschichte des Elektronenmikroskops

Qing, Lin

1995

Signatur: UFF1736

Kernphysikalische Elektronik : mit 6 Tabellen

Wissenschaftliche Taschenbücher : 160 (Alle Bände)

Meiling, Wolfgang

1975

Signatur: UFF1231

Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie an Si(111)-Flächen

Wilhelmi, Guido

1995

Signatur: D10369

Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

Kontakt & Studium : 444 (Alle Bände)

Schmidt, Peter Fritz

1994

Signatur: UFF1728

Scanning tunneling microscopy and its application

Springer series in surface sciences : 32 (Alle Bände)

Bai, Chunli

1995

Signatur: UFF1702

Scanning tunneling microscopy. 2. Further applications and related scanning techniques / with contrib. by W. Baumeister

Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 28 (Alle Bände)

2. ed, 1995

Signatur: UFF1582(2)-2

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