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  • BibTeX
Röntgen-Pulverdiffraktometrie : rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung ; mit 39 Tabellen
2., korr. und erw. Aufl, 2003
Signatur: UIO2438(2)
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Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. 1
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization (Alle Bände), World Scientific series in materials and energy : 1 (Alle Bände)
2012
Signatur: UIO2412-1
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Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. 2
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization (Alle Bände), World Scientific series in materials and energy : 2 (Alle Bände)
2012
Signatur: UIO2412-2
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Kohärente Pulspropagation an gebundenen Exzitonen in CdS
1997
Signatur: P1069, UIO2195
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High resolution x-ray diffractometry and topography
1998
Signatur: UIO2200
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Thin film analysis by X-ray scattering
2006
Signatur: UIY2577
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Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy
2003
Signatur: UTF2047
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NEXAFS spectroscopy
Springer series in surface sciences : 25 (Alle Bände)
1. ed., 2. print, 2003
Signatur: UTF2039
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Third generation hard X-ray synchrotron radiation sources : source properties, optics, and experimental techniques
A Wiley-Interscience publication
2002
Signatur: UIO2365
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Spectroscopic properties of rare earths in optical materials : with 61 tables
Springer series in materials science : 83 (Alle Bände)
2005
Signatur: UIO2357
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NMR-Konzepte und Methoden : mit 21 Tabellen
Springer-Lehrbuch
1994
Signatur: ULP3059
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  • BibTeX
ENDOR-Untersuchungen an Aggregatdefekten in Silizium : die Struktur von Au-Li- und Pt-Li-Komplexen
1994
Signatur: P744, UIO2048
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  • BibTeX
Resonante Lichtstreuung in ZnSe-Epitaxieschichten und ZnSe, ZnS-Quantentrogstrukturen
1994
Signatur: P831, UIY2234
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Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode : eine Einführung ; mit 24 Tabellen
Vieweg-Lehrbuch : Analytische Chemie
5., neubearb. Aufl, 1994
Signatur: UIO1068(5)
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Magnetische Resonanzuntersuchungen an Röntgenspeicherleuchtstoffen mit Perowskit- und Elpasolith-Struktur
1996
Signatur: P990, UIO2179
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Strahleninduzierte Defekte und Rekombinationsprozesse in Szintillatorkristallen
1993
Signatur: UIR2506, P706
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  • BibTeX
Schwingungsspektroskopische Untersuchungen an Alkalihydroxiden und ihren deuterierten Homologen unter hohem Druck
1993
Signatur: P697, UBV1201
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Strukturuntersuchungen an thermisch gebildeten Sauerstoffaggregatzentren in Silizium
1993
Signatur: UIO2014, P705
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Elektronen-Kern-Doppelresonanz an den Donatoren 6H-SiC:N und den Akzeptoren 4H-SiC:B sowie einem Phosphor-Leerstellen-Komplex in 6H-SiC
1995
Signatur: P855, UIO2080
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Elektrische, optische und magnetische Messungen an Gold-Lithium-Komplexen in Silizium
1996
Signatur: P988, UIO2161
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Optisch detektierte magnetische Resonanzuntersuchungen an Defekten mit Negativ-U-Eigenschaften : DX-Zentren in AlGaAs und der Sauerstoffdefekt in GaAs
1995
Signatur: UIQ4715, P885
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Surface infrared and Raman spectroscopy : methods and applications
Methods of surface characterization : 3 (Alle Bände)
1995
Signatur: UIO2072
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Elektronen-Kern-Doppelresonanz und Magneto-Optik an Fe-Akzeptor-Paardefekten in Silizium
1995
Signatur: UIO2441, P888
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X-ray analysis and the structure of organic molecules
(2., corr. reprint), 1995
Signatur: UIO1482
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Scanning tunneling microscopy and its application
Springer series in surface sciences : 32 (Alle Bände)
1995
Signatur: UFF1702
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SchlagwortKristallstrukturanalyse
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