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2. ed, 1967
Signatur: UFF1142(2)
Springer series in surface sciences : ...
Signatur: UFF1582-...
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Autor / Autorin
- Wiesendanger, Roland
- Anselmetti, Dario
- Arbiol, Jordi
- Bai, Chunli
- Banhart, Florian
- Baumeister, Wolfgang
- Bonnell, Dawn A
- Caulton, Martin
- Chen, C. Julian
- Chescoe, Dawn
- Clarebrough, Leo M
- Cloud, Gary L
- Colton, Richard J
- Craig, Edwin C
- Delaney, Cyril F
- Dewolf, David A
- Eleftheriou, Evangelos
- Ferguson, Ian F
- Forwood, Chris T
- Goodhew, Peter J
Erscheinungsform
Schlagwort
- Rastertunnelmikroskopie
- Elektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskopie
- Elektronenoptik
- Halbleiter
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rastersondenmikroskopie
- Anwendung
- Auger-Spektroskopie
- Durchstrahlungselektronenmikroskop
- Durchstrahlungselektronenmikroskopie
- Electroluminescence
- Electroluminescent devices
- Elektrolumineszenz
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- Elektronik
- Elektronisches Bauelement
- Engineering
- Geschichte
- Grenzfläche
Erscheinungsjahr
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