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Nanoscience and technology
1998
Signatur: UFF1786

Nanostructure science and technology
2003
Signatur: UIU4537





Auger microprobe analysis
1989
Signatur: UFF1493


Basics of electron optics
A Wiley Interscience publication
1990
Signatur: UFF1540

Electron beam testing technology
Microdevices
1993
Signatur: UFF1621







[Rev. ed.], 1980
Signatur: YEA2298




Wiley series in materials for electronic and optoelectronic applications
2005
Signatur: UIR2687


Fundamentals of electronic circuits
Prentice-Hall Series in electronic technology
1971
Signatur: UFF1118
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SystemstelleUGU
SchlagwortElektronenmikroskopie
SpracheEnglisch