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  • BibTeX
Elektronen-Kern-Doppelresonanz und Magneto-Optik an Fe-Akzeptor-Paardefekten in Silizium
1995
Signatur: UIO2441, P888
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A new apparatus for the in-situ X-ray characterization of thin layers
1999
Signatur: PQ1438, MQ35375
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ENDOR-Untersuchungen zur Strukturbestimmung von Defekten in gestörter, ionischer Gitterumgebung
1989
Signatur: P432, UIO2440
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Röntgen-Pulverdiffraktometrie : rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung ; mit 39 Tabellen
2., korr. und erw. Aufl, 2003
Signatur: UIO2438(2)
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Diffraction analysis of the microstructure of materials : with 39 tab
Springer series in materials science : 68 (Alle Bände), Physics and astronomy online library
2004
Signatur: UIO2420
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  • BibTeX
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. 1
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization (Alle Bände), World Scientific series in materials and energy : 1 (Alle Bände)
2012
Signatur: UIO2412-1
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  • BibTeX
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. 2
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization (Alle Bände), World Scientific series in materials and energy : 2 (Alle Bände)
2012
Signatur: UIO2412-2
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  • BibTeX
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization
World Scientific series in materials and energy : ...
2012-
Signatur: UIO2412-...
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  • BibTeX
Structure determination by x-ray crystallography : analysis by x-rays and neutrons ; celebrating the centenary of x-ray crystallography
5. ed, 2013
Signatur: UIO1377(5)
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  • BibTeX
Handbook of modern ion beam materials analysis. Vol. [1
Handbook of modern ion beam materials analysis (Alle Bände)
2. ed, 2009
Signatur: UIO2404(2)-1
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  • BibTeX
Handbook of modern ion beam materials analysis. Vol. [2. Appendices
Handbook of modern ion beam materials analysis (Alle Bände)
2. ed, 2009
Signatur: UIO2404(2)-2
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  • BibTeX
Handbook of modern ion beam materials analysis
2. ed, 2009-
Signatur: UIO2404(2)-...
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  • BibTeX
Electron backscatter diffraction in materials science
2. ed, 2009
Signatur: UIO2399(2)
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  • BibTeX
Atomic scale characterization and first-principles studies of Si3N4 interfaces
Springer theses
2011
Signatur: UIO2381
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Unconventional nanopatterning techniques and applications
2009
Signatur: UIO2373
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  • BibTeX
Thin film analysis by X-ray scattering
2006
Signatur: UIY2577
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X-ray scattering from semiconductors
2. ed, 2003
Signatur: UIO2331(2)
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  • BibTeX
Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy
2003
Signatur: UTF2047
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NEXAFS spectroscopy
Springer series in surface sciences : 25 (Alle Bände)
1. ed., 2. print, 2003
Signatur: UTF2039
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  • BibTeX
Third generation hard X-ray synchrotron radiation sources : source properties, optics, and experimental techniques
A Wiley-Interscience publication
2002
Signatur: UIO2365
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  • BibTeX
Spectroscopic properties of rare earths in optical materials : with 61 tables
Springer series in materials science : 83 (Alle Bände)
2005
Signatur: UIO2357
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Streumethoden zur Untersuchung kondensierter Materie : vom 4. bis 15. März 1996 im Forschungszentrum Jülich
Vorlesungsmanuskripte des ... IFF-Ferienkurses : 27 (Alle Bände), Ferienkurse des Forschungszentrums Jülich
1996
Signatur: UIO2349
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Nanoscience : friction and rheology on the nanometer scale
Repr, 2002
Signatur: UIO2323
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Unelastische Kernstreuung zur Untersuchung der Gitterdynamik in Eisen, Eisen-Invar-Systemen und Zinnmonoxid unter hohem Druck
2004
Signatur: PQ249
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Modellierung und Strukturaufklärung amorpher Si-C-N-Prekursorkeramiken auf atomarer Ebene
2003
Signatur: PQ213
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