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Springer Series in Measurement Science and Technology
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Smart Sensors, Measurement and Instrumentation : 25
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Autor / Autorin
- Institute of Electrical and Electronics Engineers,
- IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications
- Mukhopadhyay, Subhas Chandra
- Zatuchny, Dmitry Alexandrovich
- Bernstein, Herbert
- Beyerer, Jürgen
- Frese, Christian
- Hawney, William
- IEEE International Symposium on Virtual Environments, Human-Computer Interfaces and Measurement Systems
- Pillai, Reji Kumar
- Puente León, Fernando
- Smolskiy, Sergey M
- Wiegleb, Gerhard
- Xu, Yang
- Albert, Bill
- Arefi, Ali
- Badnjević, Almir
- Casson, Alexander
- Diering, Magdalena
- Dvornikov, Sergey Viktorovich
Erscheinungsform
Schlagwort
- Physical measurements
- Measuring instruments
- Physics
- Engineering
- Control engineering
- Electronics
- Electronic circuits
- Materials science
- Particle acceleration
- Microelectronics
- Nuclear physics
- Robotics
- Signal processing
- Control
- Measurement Science and Instrumentation
- Telecommunication
- Automation
- Biomedical engineering
- Materials
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
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Systemstelle
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