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Das neue Transistorlehrbuch : Transistortechnik leichtgemacht

Philips-Fachbücher

Kaden, Helmut E

4., völlig neubearb. und erw. Aufl. des Werks "Das Transistorlehrbuch", 1974

Signatur: UIU1034(4)

III-nitride semiconductor : growth

Optoelectronic properties of semiconductors and superlattices : 19 (Alle Bände)

Manasreh, Mahmoud Omar[Herausgeber]

2003

Signatur: UIU4414

Semiconductors and semimetals : a treatise. Vol. 22. Lightwave communications technology, Pt. A. Material growth technologies

Semiconductors and semimetals (Alle Bände)

1985

Signatur: UIU1733-22,A

Nichtlineare Optik an Exziton-Polariton-Systemen

Köhler, Peter

1991

Signatur: D4357

Subbandzustände in III-V-Halbleiter-Heterostrukturen [Halbleiter-Heterostrukturen

Malcher, Franz

1988

Signatur: D748

Neue Methoden zur Messung von Ladungsträgerbeweglichkeiten in organischen Halbleitern

Kraft, Karl-Heinz

1993

Signatur: D8671

Semiconductors and semimetals : a treatise. 14. Lasers, junctions, transport

Semiconductors and semimetals (Alle Bände)

1979

Signatur: UIU1733-14

Wide gap II-VI semiconductors : proceedings of the E-MRS advanced research workshop, Montpellier, 16 - 18 January 1991

Triboulet, R[Herausgeber]

1991

Signatur: UAL910042

Semiconductor optoelectronics : physics and technology

McGraw-Hill series is electrical and computer engineering : Electronics and VLSI circuits

Singh, Jasprit

1995

Signatur: UIU3727

Züchtung, Kristallchemie und -physik von Laser- und Halbleiter-Einkristallen

Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen : 2469 (Alle Bände)

1974

Signatur: UIU1848

Effets radiatifs dans les semiconducteurs

Annales de physique : F,1520,C,2 (Alle Bände), Annales de physique : Colloque : 1995,2 (Alle Bände)

Cernogora, J[Herausgeber]

1995

Signatur: UAL950034

Defektcharakterisierung in Verbindungshalbleitern durch rasterelektronenmikroskopische Methoden

Eckstein, Michael

1990

Signatur: D4375

OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen : die Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeiten und elektrischen Feldverteilungen

Flohr, Thomas

1989

Signatur: D718

Untersuchungen zur Ladungsträgerrelaxation in GaAs nach Anregung mit ultrakurzen Laserpulsen

Böhne, Gregor

1992

Signatur: D6748

Low dimensional nitride semiconductors

Series on semiconductor science and technology : 9 (Alle Bände)

Gil, Bernard[Herausgeber]

2002

Signatur: UIU4406

III-V-Halbleiterquantentröge in gekippten Magnetfeldern

Marx, Gerhard

1991

Signatur: D5809

AMORPHOUS AND LIQUID SEMICONDUCTORS. PROCEEDINGS OF THE FOURTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON AMORPHOUS AND LIQUID SEMICONDUCTORS ANN ARBOR, MICHIGAN, U.S.A. AUGUST 9-13, 1971. ED

1972

Signatur: UIU1327

Semiconductors and semimetals : a treatise. 5. Infrared detectors

Semiconductors and semimetals (Alle Bände)

1970

Signatur: UIU1733-5

Dynamik elektronischer Anregungszustände in optisch hochangeregten Halbleitern

Östreich, Thomas

1993

Signatur: D8921

Chemical Bonds in Semiconductors and Thermodynamics : TRANSL. FROM RUSSIAN

Sirota, Nikolaj Nikolaevič

1968

Signatur: UIU2250

Semiconductor power devices : PHYSICS OF OPERATIONS AND FABRICATION TECHNOLOGY

A Wiley-Interscience publication

Ghandhi, Sorab Khushro

1977

Signatur: UIU2145

Untersuchung bestrahlungsinduzierter Punktdefekte in Halbleitern mit diffuser Röntgenstreuung

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2795 (Alle Bände)

Karsten, Kuno

1993

Signatur: MQ3877

Halbleiter-Anschluss-Tabelle : 1600 Anschlussbelegungen der wichtigsten TTL-ICs, C-MOS-ICs, Linear-ICs und Transistoren

Härtl, Alfred

7., überarb. u. erw. Aufl, 1992

Signatur: YET2798(7)

Ein Beitrag zur thermischen Nachbehandlung von semiisolierenden LEC-GaAs-Einkristallen und -Scheiben

Hoffmann, Bernd

1996

Signatur: D11041

Elektronenspektroskopische Untersuchungen von Eisensilizid-Silizium-Heterostrukturen

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2767 (Alle Bände)

Moritz, Heiko

1993

Signatur: MQ3707

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Autor / AutorinOrton, John W.

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