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  • BibTeX
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. 1
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization (Alle Bände), World Scientific series in materials and energy : 1 (Alle Bände)
2012
Signatur: UIO2412-1
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Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. 2
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization (Alle Bände), World Scientific series in materials and energy : 2 (Alle Bände)
2012
Signatur: UIO2412-2
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High resolution x-ray diffractometry and topography
1998
Signatur: UIO2200
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Thin film analysis by X-ray scattering
2006
Signatur: UIY2577
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Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy
2003
Signatur: UTF2047
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NEXAFS spectroscopy
Springer series in surface sciences : 25 (Alle Bände)
1. ed., 2. print, 2003
Signatur: UTF2039
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Third generation hard X-ray synchrotron radiation sources : source properties, optics, and experimental techniques
A Wiley-Interscience publication
2002
Signatur: UIO2365
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Spectroscopic properties of rare earths in optical materials : with 61 tables
Springer series in materials science : 83 (Alle Bände)
2005
Signatur: UIO2357
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Surface infrared and Raman spectroscopy : methods and applications
Methods of surface characterization : 3 (Alle Bände)
1995
Signatur: UIO2072
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  • BibTeX
X-ray analysis and the structure of organic molecules
(2., corr. reprint), 1995
Signatur: UIO1482
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Scanning tunneling microscopy and its application
Springer series in surface sciences : 32 (Alle Bände)
1995
Signatur: UFF1702
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  • BibTeX
Unconventional nanopatterning techniques and applications
2009
Signatur: UIO2373
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  • BibTeX
Electron backscatter diffraction in materials science
2. ed, 2009
Signatur: UIO2399(2)
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Structure determination by x-ray crystallography : analysis by x-rays and neutrons ; celebrating the centenary of x-ray crystallography
5. ed, 2013
Signatur: UIO1377(5)
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  • BibTeX
Cubic III-nitride quantum structures grown by molecular beam epitaxy
2000
Signatur: P1373, UIY2496
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  • BibTeX
Light scattering from microstructures : lectures of the Summer School of Laredo, University of Cantabria, held at Laredo, Spain, Sept. 11 - 13, 1998
Lecture notes in physics : 534 (Alle Bände), Physics and astronomy online library
2000
Signatur: UAL980160
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Magnetism and lattice dynamics under high pressure studied by nuclear resonant scattering of synchrotron radiation
2000
Signatur: PQ159
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Magnetic resonance investigation of the x-ray storage phosphors RbBr:Ga + and CsBr:Ga + : new materials for digital radiography
2000
Signatur: P1349, UIO2250
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Near field microscopy and near field optics
2003
Signatur: UGU2634
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Electron paramagnetic resonance of process induced defects in silicon
2001
Signatur: PQ182
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Microanalysis of solids
1994
Signatur: UIO2030
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X-ray scattering from semiconductors
2. ed, 2003
Signatur: UIO2331(2)
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Streumethoden zur Untersuchung kondensierter Materie : vom 4. bis 15. März 1996 im Forschungszentrum Jülich
Vorlesungsmanuskripte des ... IFF-Ferienkurses : 27 (Alle Bände), Ferienkurse des Forschungszentrums Jülich
1996
Signatur: UIO2349
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Physics and current understanding of x-ray storage phosphors
2000
Signatur: MQ12472
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EPR-induced charge transport in highly doped crystalline n-type silicon carbide
2000
Signatur: PQ151
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Autor / AutorinNastasi, Michael
SpracheEnglisch
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