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Electron beam testing technology
Microdevices
1993
Signatur: UFF1621


Nanostructure science and technology
2003
Signatur: UIU4537


Wiley series in materials for electronic and optoelectronic applications
2005
Signatur: UIR2687

Electronics via waveform analysis
1993
Signatur: UFF1647

[Rev. ed.], 1980
Signatur: YEA2298


1. paperback ed, 1998
Signatur: UGR1730




Nanoscience and technology
1998
Signatur: UFF1786




Auger microprobe analysis
1989
Signatur: UFF1493




Ellis Horwood series in electrical and electronic engineering, Electronic and communication engineering
1990
Signatur: UFF1524


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Autor / AutorinMorkoç, Hadis
SchlagwortElektronenmikroskopie
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Systemstelle