UB Paderborn / Katalog / Suche / im Katalog

1 – 25 von 114

Sortiert nach

Semiconductor Nanowires : materials, synthesis, characterization and applications

Woodhead Publishing series in electronic and optical materials : 77 (Alle Bände)

2015

Signatur: UFF1841

Control technologies for emerging micro and nanoscale systems

Lecture notes in control and information sciences : 413 (Alle Bände)

Eleftheriou, Evangelos

2011

Signatur: UFF1825

In-situ electron microscopy at high resolution

Banhart, Florian[Herausgeber]

2008

Signatur: UFF1817

Handbook of nitride semiconductors and devices

Morkoç, Hadis

2008-

Signatur: YEM2256

Handbook of nitride semiconductors and devices. 1. Materials, properties, physics and growth

Handbook of nitride semiconductors and devices (Alle Bände)

Morkoç, Hadis

2008

Signatur: YEM2256-1

Handbook of nitride semiconductors and devices. 2. Electronic and optical processes in nitrides

Handbook of nitride semiconductors and devices (Alle Bände)

Morkoç, Hadis

2008

Signatur: YEM2256-2

Bulk crystal growth of electronic, optical & optoelectronic materials

Wiley series in materials for electronic and optoelectronic applications

Capper, Peter[Herausgeber]

2005

Signatur: UIR2687

Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop : ein Handbuch für die Praxis

Eggert, Frank

2005

Signatur: UFF1833

Organic electroluminescence

Optical engineering : 94 (Alle Bände)

Kafafi, Zakya H

2005

Signatur: UIQ5151

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen [Elektronische Ressource]

Röder, Thorsten

2004

Link zum Volltext
Volltext

Ultramikrotomie in der Materialforschung

2004

Signatur: UFF1809

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen

Röder, Thorsten

2004

Signatur: P1778

Semiconductor nanocrystals : from basic principles to applications

Nanostructure science and technology

Ėfros, Aleksej L[Herausgeber]

2003

Signatur: UIU4537

Quantitative high resolution fluorescence microscopy using evanescent wave excitation

Oheim, Martin

1. Aufl, 1999

Signatur: UFF1794

Procedures in scanning probe microscopies

Colton, Richard J[Herausgeber]

Repr, 1999

Signatur: MQ11448

Optical methods of engineering analysis

Cloud, Gary L

1. paperback ed, 1998

Signatur: UGR1730

Scanning probe microscopy : analytical methods

Nanoscience and technology

Wiesendanger, Roland[Herausgeber]

1998

Signatur: UFF1786

Sehen, Verstehen, Gestalten : Mikrostrukturen im Elektronenmikroskop

Schulze, Dietrich

1998

Signatur: MQ11141, MQ11140

Entwicklung und Anwendung piezoresistiver Brückenelemente als integrierte Sensoren für die Rasterkraftmikroskopie

Jumpertz, Reiner

1997

Signatur: DQ2166

Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Adsorption und Reaktion von O 2, N 2 O, NO 2 und NO auf Si(100) und das Wachstum von Pt auf reinem und oxidiertem Si(100)

Kliese, Rainer

1997

Signatur: D11270

Konzeption und Herstellung von Mikrosonden zur elektrischen und thermischen Charakterisierung mikroelektrischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie

Münster, Stefan

1997

Signatur: D11950

Scanning tunneling microscopy. 3. Theory of STM and related scanning probe methods

Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 29 (Alle Bände)

2. ed, 1996

Signatur: UFF1582(2)-3

Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis

1996

Signatur: UFF1760

Scanning tunneling microscopy. 2. Further applications and related scanning techniques / with contrib. by W. Baumeister

Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 28 (Alle Bände)

2. ed, 1995

Signatur: UFF1582(2)-2

Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation

Harnau, Arnold

1995

Signatur: D10805

1 – 25 von 114

Suche als RSS-Feed

Aktive Filter

Autor / AutorinKönig, Herbert Wilhelm

SystemstelleUGU

Suchergebnisse filtern

Filter anzeigen

Art des Mediums

Gedruckt
(113)
Online-Ressource
(1)

Autor / Autorin

Anselmetti, Dario
(7)
Baumeister, Wolfgang
(7)
Güntherodt, Hans-Joachim
(7)
Bargmann, Wolfgang
(3)
International Conference on Electron Microscopy
(3)
Morkoç, Hadis
(3)
Craig, Edwin C
(2)
Delaney, Cyril F
(2)
Jones, Kenneth A
(2)
Rohe, Karl-Heinz
(2)
Röder, Thorsten
(2)
Wiesendanger, Roland
(2)
Arbiol, Jordi
(1)
Bai, Chunli
(1)
Banhart, Florian
(1)
Bartsch, Heinz
(1)
Bauer, Hans-Dietrich
(1)
Berghaus, Thomas
(1)
Beynon, John
(1)
Bigalke, Alfred
(1)

15 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Erscheinungsform

Monographie
(114)

Schlagwort

15 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Erscheinungsjahr

n.n

Neu hinzugefügt

Sprache

Englisch
(42)
Deutsch
(37)

Systemstelle

UFF
(114)
UIU
(8)
UIY
(6)
YEM
(6)
UAE
(2)
UIO
(2)
UIQ
(2)
UTF
(2)
VUT
(2)
YEA
(2)
ZME
(2)
UBS
(1)
UGR
(1)
UIR
(1)
UJP
(1)
VNU
(1)
WFC
(1)
XWO
(1)
XWQ
(1)
XWW
(1)

15 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Art des Inhalts

1 weiteren anzeigen...

Weniger anzeigen...

Menü

Weitere Dienste

Einstellungen

Semiconductor Nanowires : materials, synthesis, characterization and applications

Control technologies for emerging micro and nanoscale systems

In-situ electron microscopy at high resolution

Handbook of nitride semiconductors and devices

Handbook of nitride semiconductors and devices. 1. Materials, properties, physics and growth

Handbook of nitride semiconductors and devices. 2. Electronic and optical processes in nitrides

Bulk crystal growth of electronic, optical & optoelectronic materials

Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop : ein Handbuch für die Praxis

Organic electroluminescence

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen [Elektronische Ressource]

Ultramikrotomie in der Materialforschung

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen

Semiconductor nanocrystals : from basic principles to applications

Quantitative high resolution fluorescence microscopy using evanescent wave excitation

Procedures in scanning probe microscopies

Optical methods of engineering analysis

Scanning probe microscopy : analytical methods

Sehen, Verstehen, Gestalten : Mikrostrukturen im Elektronenmikroskop

Entwicklung und Anwendung piezoresistiver Brückenelemente als integrierte Sensoren für die Rasterkraftmikroskopie

Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Adsorption und Reaktion von O 2, N 2 O, NO 2 und NO auf Si(100) und das Wachstum von Pt auf reinem und oxidiertem Si(100)

Konzeption und Herstellung von Mikrosonden zur elektrischen und thermischen Charakterisierung mikroelektrischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie

Scanning tunneling microscopy. 3. Theory of STM and related scanning probe methods

Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis

Scanning tunneling microscopy. 2. Further applications and related scanning techniques / with contrib. by W. Baumeister

Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation

Aktive Filter

Suchergebnisse filtern