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Electronic instrumentation and measurement techniques

Cooper, William David

6. print, 1970

Signatur: XXA2241

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen [Elektronische Ressource]

Röder, Thorsten

2004

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Volltext

In-situ electron microscopy at high resolution

Banhart, Florian[Herausgeber]

2008

Signatur: UFF1817

Scanning tunneling microscopy. 2. Further applications and related scanning techniques / with contrib. by W. Baumeister

Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 28 (Alle Bände)

2. ed, 1995

Signatur: UFF1582(2)-2

Principles of analytical electron microscopy

Joy, David C[Herausgeber]

1986

Signatur: UFF1435

Hall generators and magnetoresistors

Applied Physics Series : 6 (Alle Bände)

Wieder, H. H

1971

Signatur: UFF1176

Aufbau einer UHV-Kombination von Rasterelektronen- und Rastertunnelmikroskop : lokale Untersuchung der Austrittsarbeit an definierten Oberflächen

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2993 (Alle Bände)

Birkner, Alexander

1994

Signatur: MQ5414

Entwicklung und Anwendung piezoresistiver Brückenelemente als integrierte Sensoren für die Rasterkraftmikroskopie

Jumpertz, Reiner

1997

Signatur: DQ2166

Electronics for the physicist with applications

Delaney, Cyril F

[Rev. ed.], 1980

Signatur: YEA2298

Katodenstrahl-Oszillographen : Grundlagen und Anwendungen

Millner, Rudolf

2., überarb. Aufl, 1967

Signatur: UFF1003(2)

Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikroskops und erste Messungen an oxidischen Proben

Wiechers, Joachim

1993

Signatur: D8595

Electronics for the physicist

Penguin education : 53 (Alle Bände)

Delaney, Cyril F

1969

Signatur: YEA2303

Scanning tunneling microscopy. 1. General principles and applications to clean and absorbate covered surfaces / with contributions by D. Anselmetti

Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 20 (Alle Bände)

1992

Signatur: UFF1582-1

Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Adsorption und Reaktion von O 2, N 2 O, NO 2 und NO auf Si(100) und das Wachstum von Pt auf reinem und oxidiertem Si(100)

Kliese, Rainer

1997

Signatur: D11270

Scanning tunneling microscopy. 3. Theory of STM and related scanning probe methods

Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), ... : 29 (Alle Bände)

1993

Signatur: UFF1582-3

Rastertunnelmikroskopie an YBa 2 Cu 3 O 7 -Schichten : Interpretation der Bilder und der spektroskopischen Ergebnisse

Geyer, Ulrich

1992

Signatur: D7790

Die fotografische Registrierung von Elektronenstrahl-Oszillogrammen

Philips-Taschenbücher : 1 (Alle Bände)

Fricke, Hans W

1964

Signatur: UFF1192

Quantitative Hochauflösungselektronenmikroskopie an Zwillingskorngrenzen in kfz-Metallen

Hofmann, Dirk

1994

Signatur: D9565

Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation

Harnau, Arnold

1995

Signatur: D10805

Konzeption und Herstellung von Mikrosonden zur elektrischen und thermischen Charakterisierung mikroelektrischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie

Münster, Stefan

1997

Signatur: D11950

Introduction to analytical electron microscopy

Hren, John J[Herausgeber]

1979

Signatur: UFF1419

Die Glimmröhre : ihre physikalischen Grundlagen und ihre Verwendung im Unterricht

1963

Signatur: UFF1370

Elektronik für Physiker : eine Einführung in analoge Grundschaltungen

Teubner-Studienbücher : Physik

Rohe, Karl-Heinz

1978

Signatur: UFF1281

The operation of transmission and scanning electron microscopes

Microscopy handbooks : 20 (Alle Bände), Oxford science publications

1990

Signatur: UFF1516

Introduction to optical electronics

Jones, Kenneth A

1. [Dr.], 1987

Signatur: UFF1451

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