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Signatur: UFF1003(2)
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Autor / Autorin
- Bargmann, Wolfgang
- International Conference on Electron Microscopy
- Jones, Kenneth A
- Rohe, Karl-Heinz
- Röder, Thorsten
- Bartsch, Heinz
- Bauer, Hans-Dietrich
- Berghaus, Thomas
- Beynon, John
- Bigalke, Alfred
- Birkner, Alexander
- Bonč-Bruevič, Viktor Leopolʹdovič
- COUGHLIN, R F
- Cooper, William David
- Craig, Edwin C
- Delaney, Cyril F
- Eggert, Frank
- Ellermeyer, Friedhelm
- Felten, Klaus
- Flegler, Stanley L
Erscheinungsform
Schlagwort
- Elektronik
- Rastertunnelmikroskopie
- Elektronenmikroskop
- Elektronenmikroskopie
- Oszillograph
- Elektronenoptik
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- Halbleiter
- Kristallfläche
- Rasterkraftmikroskopie
- Abbildungsfehler
- Amorpher Halbleiter
- Bildkontrast
- Datenverarbeitung
- Elektronenspektroskopie
- Elektronentheorie
- Elektronische Eigenschaft
- Elektronisches Bauelement
- Fokussierung
- Geschichte 1929-1939
Erscheinungsjahr
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