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Nanoscience and technology
1998
Signatur: UFF1786

Electronics via waveform analysis
1993
Signatur: UFF1647

Electron microprobe analysis
2. ed, 1993
Signatur: UFF1605








Oszilloskope
1989
Signatur: UFF1485

Auger microprobe analysis
1989
Signatur: UFF1493







Basics of electron optics
A Wiley Interscience publication
1990
Signatur: UFF1540




Electron beam testing technology
Microdevices
1993
Signatur: UFF1621
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Autor / AutorinJones, Kenneth A
SystemstelleYEM
SchlagwortAmorpher Halbleiter
SchlagwortElektronenmikroskopie
SchlagwortElektronik
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Systemstelle