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IEEE Std 62.2-2004
2005
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Autor / AutorinInstitute of Electrical and Electronics Engineers,
Autor / AutorinInternational Symposium on Software Testing and Analysis
Autor / AutorinZhu, Dongming
SystemstelleTAY
SchlagwortSocial sciences
SchlagwortStatistics 
Autor / AutorinInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE),