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Surface analysis techniques and applications : papers presented at an international symposium organized by the North West Region of the Industrial and Analytical Divisions of the Royal Society of Chemistry, the Manchester Sections of the Royal Society of Chemistry and The Society of Chemical Industry, and the Manchester and District Branch of the Institute of Physics ; U.M.I.S.T., Manchester, 11 - 13th September 1989
Special publication / Royal Society of Chemistry : 84 (Alle Bände)
1990
Signatur: ZEI890254
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Surface and interface analysis : an electrochemists toolbox
Springer series in chemical physics : 74 (Alle Bände)
2009
Signatur: UQR1293
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Surface analysis : the principal techniques
2nd edition, 2009
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Electron spectroscopy for surface analysis
Topics in current physics : 4 (Alle Bände)
1977
Signatur: UAY4080-4
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Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis
1996
Signatur: UFF1760
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Oberflächenmesstechnik : innovative und effiziente Erfassung von Eigenschaften und Gestalt von Oberflächen ; Tagung Langen, 1. und 2. Dezember 2003
VDI-Berichte : 1806 (Alle Bände)
Nichtred. Ms.-Dr, 2003
Signatur: WAW4913-1806
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Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen : 3049 (Alle Bände)
1981
Signatur: UTI1266
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Optics and spectroscopy at surfaces and interfaces [Elektronische Ressource]
Physics textbook
2008
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Instrumentelle Lackanalytik : das Lehrbuch für Ausbildung und Praxis
Farbe und Lack. Bibliothek
2., vollständig überarbeitete Auflage, 2019
Signatur: ZPF2240(2)
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Polarized electrons at surfaces
Springer tracts in modern physics : 106 (Alle Bände)
1985
Signatur: UAY4098-106
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Physikalische Charakterisierung von Lacken : Einführung in Rheologie und Oberflächenanalyse
2., überarbeitete Auflage, [2019]
Signatur: ZPF2258
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Polymer Surfaces and Interfaces : Characterization, Modification and Applications [Elektronische Ressource]
2008
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Chemical Analysis in Cultural Heritage
[2020]
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Synthetic Polymeric Membranes : Characterization by Atomic Force Microscopy [Elektronische Ressource]
Springer Laboratory
2008
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Oberflächennachbehandlung beim Fused Deposition Modeling – Analyse der Oberflächenstruktur und mechanischer Kennwerte
Forschungsberichte des Direct Manufacturing Research Centers : 17 (Alle Bände)
2020
Signatur: ZOW8378, P2883
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Surface and Interface Analysis : An Electrochemists Toolbox [Elektronische Ressource]
Springer Series in Chemical Physics : 74
2009
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Autor / AutorinDudek, Hans Joachim
SystemstelleUIY
SchlagwortDünne Schicht
SchlagwortZeitschrift
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