UB Paderborn / Katalog / Suche / im Katalog

Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...

1 – 25 von 100

Sortiert nach

Control technologies for emerging micro and nanoscale systems

Lecture notes in control and information sciences : 413 (Alle Bände)

Eleftheriou, Evangelos

2011

Signatur: UFF1825

Scanning tunneling microscopy and spectroscopy : theory, techniques, and applications

Bonnell, Dawn A[Herausgeber]

1993

Signatur: UFF1639

Introduction to scanning tunneling microscopy

Oxford series in optical and imaging sciences : 4 (Alle Bände)

Chen, C. Julian

1993

Signatur: UFF1663

Electron microprobe analysis

Reed, Stephen J. B

2. ed, 1993

Signatur: UFF1605

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen

Röder, Thorsten

2004

Signatur: P1778

Semiconductor Nanowires : materials, synthesis, characterization and applications

Woodhead Publishing series in electronic and optical materials : 77 (Alle Bände)

2015

Signatur: UFF1841

Scanning tunneling microscopy and its application

Springer series in surface sciences : 32 (Alle Bände)

Bai, Chunli

1995

Signatur: UFF1702

Zur Frühgeschichte des Elektronenmikroskops

Qing, Lin

1995

Signatur: UFF1736

Scanning tunneling microscopy

Methods of experimental physics : 27 (Alle Bände)

Stroscio, Joseph A[Herausgeber]

[1994]

Signatur: UFF1671

Ultramikrotomie in der Materialforschung

2004

Signatur: UFF1809

Sehen, Verstehen, Gestalten : Mikrostrukturen im Elektronenmikroskop

Schulze, Dietrich

1998

Signatur: MQ11141, MQ11140

Scanning probe microscopy : analytical methods

Nanoscience and technology

Wiesendanger, Roland[Herausgeber]

1998

Signatur: UFF1786

Optoelektronik : Lehrbuch

Informationstechnologie

Jones, Kenneth A

1992

Signatur: UFF1451-DT

Präparative und mikroskopische Verfahren in der Materialprüfung : Grundlagen ; angewandte Mikroskopie

Ecomed-Umweltinformation

Jörg, Fritz

1. Aufl, 1991

Signatur: ZME1700

Oszilloskope

Meyer, Gerhard

1989

Signatur: UFF1485

Basics of electron optics

A Wiley Interscience publication

Dewolf, David A

1990

Signatur: UFF1540

Auger microprobe analysis

Ferguson, Ian F

1989

Signatur: UFF1493

Verhandlungen : Berlin, 10. - 17. September 1958. 1. Physikalisch-technischer Teil

Verhandlungen (Alle Bände)

1960

Signatur: UFF1150-1

Introduction to optical electronics

Jones, Kenneth A

1. [Dr.], 1987

Signatur: UFF1451

Scanning probe microscopy and spectroscopy : methods and applications

Wiesendanger, Roland

1994

Signatur: UFF1655

Die Glimmröhre : ihre physikalischen Grundlagen und ihre Verwendung im Unterricht

1963

Signatur: UFF1370

Untersuchung der Si-SiGe-Heteroepitaxie mit der Rastertunnelmikroskopie

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 3023 (Alle Bände)

Kampers, Stefan

1995

Signatur: MQ5582

Die fotografische Registrierung von Elektronenstrahl-Oszillogrammen

Philips-Taschenbücher : 1 (Alle Bände)

Fricke, Hans W

1964

Signatur: UFF1192

Optical methods of engineering analysis

Cloud, Gary L

1. paperback ed, 1998

Signatur: UGR1730

Möglichkeiten und Grenzen der NMR-Mikroskopie

Link, Alexander

1992

Signatur: D7956

1 – 25 von 100

Suche als RSS-Feed

Aktive Filter

Autor / AutorinCraig, Edwin C

SystemstelleYEM

SchlagwortAmorpher Halbleiter

SchlagwortElektronenmikroskopie

Suchergebnisse filtern

Filter anzeigen

Art des Mediums

Gedruckt
(99)
Online-Ressource
(1)

Autor / Autorin

Anselmetti, Dario
(7)
Baumeister, Wolfgang
(7)
Güntherodt, Hans-Joachim
(7)
Bargmann, Wolfgang
(3)
International Conference on Electron Microscopy
(3)
König, Herbert Wilhelm
(3)
Delaney, Cyril F
(2)
Jones, Kenneth A
(2)
Rohe, Karl-Heinz
(2)
Röder, Thorsten
(2)
Wiesendanger, Roland
(2)
Arbiol, Jordi
(1)
Bai, Chunli
(1)
Banhart, Florian
(1)
Bauer, Hans-Dietrich
(1)
Berghaus, Thomas
(1)
Beynon, John
(1)
Bigalke, Alfred
(1)
Birkner, Alexander
(1)
Bonnell, Dawn A
(1)

15 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Erscheinungsform

Monographie
(100)

Schlagwort

Rastertunnelmikroskopie
(11)
Elektronik
(5)
Rasterkraftmikroskopie
(5)
Elektronenoptik
(4)
Elektronenmikroskop
(3)
Rastersondenmikroskopie
(3)
Elektronenstrahlmikroanalyse
(2)
Ionenoptik
(2)
Kristallfläche
(2)
Oszillograph
(2)
Rasterelektronenmikroskopie
(2)
Abbildungsfehler
(1)
Auger-Spektroskopie
(1)
Datenverarbeitung
(1)
Durchstrahlungselektronenmikroskop
(1)
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
(1)
Elektronenspektroskopie
(1)
Engineering
(1)
Evaneszente Welle
(1)
Fluoreszenzmikroskopie
(1)

15 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Erscheinungsjahr

n.n

n.n

Neu hinzugefügt

Sprache

Deutsch
(37)
Englisch
(29)

Systemstelle

UFF
(100)
UIY
(5)
ZME
(3)
UIU
(2)
UTF
(2)
VUT
(2)
YEA
(2)
UAE
(1)
UGR
(1)
UGU
(1)
UIO
(1)
UJP
(1)
VNU
(1)
WFC
(1)
XWO
(1)
XWQ
(1)
XXA
(1)
XXF
(1)
ZMG
(1)

14 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Art des Inhalts