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6. print, 1970
Signatur: XXA2241
2., überarb. Aufl, 1967
Signatur: UFF1003(2)
Ellis Horwood series in electrical and electronic engineering, Electronic and communication engineering
1990
Signatur: UFF1524
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Autor / Autorin
- Bargmann, Wolfgang
- International Conference on Electron Microscopy
- König, Herbert Wilhelm
- Craig, Edwin C
- Delaney, Cyril F
- Jones, Kenneth A
- Rohe, Karl-Heinz
- Röder, Thorsten
- Wiesendanger, Roland
- Arbiol, Jordi
- Bai, Chunli
- Banhart, Florian
- Bauer, Hans-Dietrich
- Berghaus, Thomas
- Beynon, John
- Bigalke, Alfred
- Birkner, Alexander
- Bonnell, Dawn A
- Bonč-Bruevič, Viktor Leopolʹdovič
- COUGHLIN, R F
Erscheinungsform
Schlagwort
- Rastertunnelmikroskopie
- Elektronik
- Rasterkraftmikroskopie
- Elektronenoptik
- Oszillograph
- Elektronenmikroskop
- Rastersondenmikroskopie
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- Elektronisches Bauelement
- Ionenoptik
- Kristallfläche
- Rasterelektronenmikroskopie
- Waveform-Relaxation
- Abbildungsfehler
- Amorpher Halbleiter
- Auger-Spektroskopie
- Datenverarbeitung
- Durchstrahlungselektronenmikroskop
- Durchstrahlungselektronenmikroskopie
- Elektronenspektroskopie
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