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  • BibTeX
Röntgen-Pulverdiffraktometrie : rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung ; mit 39 Tabellen
2., korr. und erw. Aufl, 2003
Signatur: UIO2438(2)
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Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. 1
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization (Alle Bände), World Scientific series in materials and energy : 1 (Alle Bände)
2012
Signatur: UIO2412-1
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Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. 2
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization (Alle Bände), World Scientific series in materials and energy : 2 (Alle Bände)
2012
Signatur: UIO2412-2
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High resolution x-ray diffractometry and topography
1998
Signatur: UIO2200
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Thin film analysis by X-ray scattering
2006
Signatur: UIY2577
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Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy
2003
Signatur: UTF2047
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NEXAFS spectroscopy
Springer series in surface sciences : 25 (Alle Bände)
1. ed., 2. print, 2003
Signatur: UTF2039
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Third generation hard X-ray synchrotron radiation sources : source properties, optics, and experimental techniques
A Wiley-Interscience publication
2002
Signatur: UIO2365
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Spectroscopic properties of rare earths in optical materials : with 61 tables
Springer series in materials science : 83 (Alle Bände)
2005
Signatur: UIO2357
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  • BibTeX
NMR-Konzepte und Methoden : mit 21 Tabellen
Springer-Lehrbuch
1994
Signatur: ULP3059
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Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode : eine Einführung ; mit 24 Tabellen
Vieweg-Lehrbuch : Analytische Chemie
5., neubearb. Aufl, 1994
Signatur: UIO1068(5)
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  • BibTeX
Surface infrared and Raman spectroscopy : methods and applications
Methods of surface characterization : 3 (Alle Bände)
1995
Signatur: UIO2072
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  • BibTeX
X-ray analysis and the structure of organic molecules
(2., corr. reprint), 1995
Signatur: UIO1482
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  • BibTeX
Scanning tunneling microscopy and its application
Springer series in surface sciences : 32 (Alle Bände)
1995
Signatur: UFF1702
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  • BibTeX
Unconventional nanopatterning techniques and applications
2009
Signatur: UIO2373
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Electron backscatter diffraction in materials science
2. ed, 2009
Signatur: UIO2399(2)
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Handbook of modern ion beam materials analysis. Vol. [1
Handbook of modern ion beam materials analysis (Alle Bände)
2. ed, 2009
Signatur: UIO2404(2)-1
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  • BibTeX
Handbook of modern ion beam materials analysis. Vol. [2. Appendices
Handbook of modern ion beam materials analysis (Alle Bände)
2. ed, 2009
Signatur: UIO2404(2)-2
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Structure determination by x-ray crystallography : analysis by x-rays and neutrons ; celebrating the centenary of x-ray crystallography
5. ed, 2013
Signatur: UIO1377(5)
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Light scattering from microstructures : lectures of the Summer School of Laredo, University of Cantabria, held at Laredo, Spain, Sept. 11 - 13, 1998
Lecture notes in physics : 534 (Alle Bände), Physics and astronomy online library
2000
Signatur: UAL980160
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Microanalysis of solids
1994
Signatur: UIO2030
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X-ray scattering from semiconductors
2. ed, 2003
Signatur: UIO2331(2)
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Streumethoden zur Untersuchung kondensierter Materie : vom 4. bis 15. März 1996 im Forschungszentrum Jülich
Vorlesungsmanuskripte des ... IFF-Ferienkurses : 27 (Alle Bände), Ferienkurse des Forschungszentrums Jülich
1996
Signatur: UIO2349
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Zero-phonon lines and spectral hole burning in spectroscopy and photochemistry
1988
Signatur: UIO1911
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Structure analysis by small-angle x-ray and neutron scattering
1987
Signatur: UIO1775
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