2008
- Link zum Volltext
2009
- Link zum Volltext
1991
- Link zum Volltext
überarbeitete und aktualisierte Auflage, 2024
Stochastic Models in Survival Analysis and Reliability Set ; : Volume 3
2017
- Link zum Volltext
Aktive Filter
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenArt des Mediums
Autor / Autorin
- Autotestcon
- International Test Conference
- IEEE Aerospace and Electronic Systems Society Staff
- Kemna, Pierre W
- Besser-Siegmund, Cora
- IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis
- IEEE European Test Symposium
- Internationale Fernmelde-Union
- Sarges, Werner
- Siegmund, Lola
- Wai-Poi, Matthew
- Althoen, Steven C
- Amberg, Eric
- Angoff, William H
- Arras, Ulrike
- Baghaei, Purya
- Bauer, Hannspeter
- Beer, Rudolf
- Benischek, Isabella
- Blasi, Agusto
Erscheinungsform
Schlagwort
- Test
- Automatic test equipment
- Integrated circuits
- Engineering & Applied Sciences
- Electrical & Computer Engineering
- Electrical Engineering
- Avionics
- TEST
- Electronic digital computers
- Pädagogischer Test
- Maintainability (Engineering)
- Motorischer Test
- Psychologische Diagnostik
- Statistik
- Diagnostik
- Kind
- Psychologie
- Schulpädagogik
- buch
- mitp
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Neu hinzugefügt
Sprache
Systemstelle
Art des Inhalts