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Point defects in semiconductors. 2. EXPERIMENTAL ASPECTS. - 1983. - (... ; 35)
Point defects in semiconductors (Alle Bände), Springer series in solid state sciences : 35 (Alle Bände)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Point defects in semiconductors. 2. EXPERIMENTAL ASPECTS. - 1983. - (... ; 35)
Ist Teil von
Ort / Verlag
Berlin [u. a.] : Springer
Sprache
–
Identifikatoren
Titel-ID: 990019627560106463
Format
–

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