Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Point defects in semiconductors. 2. Experimental aspects
Point defects in semiconductors (Alle Bände), Springer series in solid-state sciences : 35 (Alle Bände)
1983
Signatur: UIM1288-35

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Point defects in semiconductors. 2. Experimental aspects
Ist Teil von
Ort / Verlag
Berlin [u. a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1983
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 3540115153, 0387115153
OCLC-Nummer: 831177819, 831177819
Titel-ID: 990019625640106463
Format
XVI, 295 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIM
Schlagworte
Halbleiter, Störstelle

Lade weitere Informationen...