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Point defects in semiconductors. 1. Theoretical aspects
Point defects in semiconductors (Alle Bände), Springer series in solid state sciences : 22 (Alle Bände)
1981
Signatur: UIM1288-22

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Point defects in semiconductors. 1. Theoretical aspects
Ist Teil von
Ort / Verlag
Berlin [u. a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1981
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 3540105182, 0387105182
OCLC-Nummer: 610728313, 610728313
Titel-ID: 990019625630106463
Format
XVII, 265 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIM
Schlagworte
Halbleiter, Störstelle

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