Autor(en)
Lannoo, Michel; Bourgoin, Jacques
Titel
Point defects in semiconductors / Bd. 1 : Theoretical aspects
Teil von
Ort / Verlag
Berlin [u. a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1981
Format
XVII, 265 S. : graph. Darst.
Sprache(n)
Identifikator(en)
ISBN: 3-540-10518-2
ISBN: 0-387-10518-2
OCLC-Nummer: 610728313
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Schlagwörter
Halbleiter, Störstelle
Systemstelle
UIM
Signatur
UIM1288-22

Exemplare

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UIM1288-22Normalausleihe
Ebene 3
Nicht entliehen
VerlustVerlust
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