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Autor(en)
Lannoo, Michel
;
Bourgoin, Jacques
Titel
Point defects in semiconductors / Bd. 1 : Theoretical aspects
Teil von
Point defects in semiconductors; Bd. 1
(alle Bände)
Springer series in solid state sciences; Bd. 22
(alle Bände)
Ort / Verlag
Berlin [u. a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1981
Format
XVII, 265 S. : graph. Darst.
Sprache(n)
–
Identifikator(en)
ISBN: 3-540-10518-2
ISBN: 0-387-10518-2
OCLC-Nummer: 610728313
Links zum Inhalt
–
–
Schlagwörter
Halbleiter
,
Störstelle
Systemstelle
UIM
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UIM1288-22
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UIM1288-22
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