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Point defects in semiconductors
1981-
Signatur: UIM1288-...

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Point defects in semiconductors
Ort / Verlag
Berlin [u. a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1981-
Beschreibungen/Notizen
  • Bd.-Anh. wird aus der Überordnung gebildet
  • in Bd. 2 sind d. Verf. in umgekehrter Reihenfolge genannt
  • erschienen: 1 (1981) - 2 (1983)
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 3540105182, 0387105182
OCLC-Nummer: 636457995, 636457995
Titel-ID: 990019625610106463
Format
–
Systemstelle
UIM
Schlagworte
Halbleiter, Störstelle

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