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Design of testable logic circuits
Microelectronics systems design series
1984
Signatur: YCF2198

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Design of testable logic circuits
Ist Teil von
  • Microelectronics systems design series
Ort / Verlag
London [u.a.] : Addison-Wesley
Erscheinungsjahr
1984
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0201144034
OCLC-Nummer: 265669684, 265669684
Titel-ID: 990018578910106463
Format
XII, 164 S : graph. Darst.
Systemstelle
YCF
Schlagworte
Logische Schaltung, Testen

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