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BibTeX
Silizium-Halbleitertechnologie : Grundlagen mikroelektronischer Integrationstechnik
Hilleringmann, Ulrich
6., korr. und verb. Aufl, 2014
Signatur:
YFB3120(6)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Hilleringmann, Ulrich
Titel
Silizium-Halbleitertechnologie : Grundlagen mikroelektronischer Integrationstechnik
Auflage
6., korr. und verb. Aufl
Ort / Verlag
Wiesbaden : Springer Vieweg
Erscheinungsjahr
2014
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Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 9783834813350, 3834813354
OCLC-Nummer: 894721238, 894721238
Titel-ID: 990017495680106463
Format
XI, 263 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YFB
Schlagworte
Silicium
,
Halbleitertechnologie
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