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In-situ electron microscopy at high resolution
2008
Signatur: UFF1817

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
In-situ electron microscopy at high resolution
Ort / Verlag
Hackensack, NJ [u.a.] : World Scientific
Erscheinungsjahr
2008
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9789812797339, 9812797335
OCLC-Nummer: 636072674, 636072674
Titel-ID: 990013740450106463
Format
VI, 311 S. : zahlr. Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UFF

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