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Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- System on chip test architectures : nanometer design for testability
- Ist Teil von
- The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
- Ort / Verlag
- Amsterdam [u.a.] : Elsevier [u.a]
- Erscheinungsjahr
- 2008
- Link zu anderen Inhalten
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISBN: 9780123739735OCLC-Nummer: 1075442930, 1075442930Titel-ID: 990010102750106463
- Format
- XXXVI, 856 S. : Ill., graph. Darst.
- Systemstelle
- YFB
- Schlagworte
- Systems on a chip, Integrated circuits