Autor(en)
Preuß, Stephan
Titel
Degradation mechanism of AlInGaP light emitting diodes during PMMA encapsulation and operation [Elektronische Ressource]
Erscheinungsjahr
2007
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http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn=urn:nbn:de:hbz:466-20071210019
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Beschreibungen
Paderborn, Univ., Diss., 2007
Format
–
Sprache(n)
Englisch
Identifikator(en)
OCLC-Nummer: 213392709
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Schlagwörter
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Systemstelle
UIU
Signatur
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